Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A Users Guide

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Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A Users Guide

While single wave ellipsometry has been around for years spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry.
  • Fruugo ID: 434362381-911569701
  • ISBN: 9780471181729

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  • STANDARD: ₹1,412.99 - के बीच वितरण बुध 14 जनवरी 2026–मंगल 03 फ़रवरी 2026

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