Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

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विवरण

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology it assumes no reliability education or experience.
  • Fruugo ID: 434363568-911570901
  • ISBN: 9780471731726

डिलीवरी और वापसी

6 दिनों के भीतर भेजा जाएगा

  • STANDARD: ₹2,923.99 - के बीच वितरण बुध 07 जनवरी 2026–मंगल 27 जनवरी 2026

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